Piani campione (basamenti) e piani di misura Nikon - Metris MMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm
Informazione tecniche
- Lenght3259 mm
- Width2011 mm
- Thickness3510 mm
Informazioni supplementari
NIKON
X: 1000 – Y: 2500 – Z: 800 mm
Potenza: 3,2 kW
Sistema di controllo Renishaw:
-Controller della testa della sonda: PHC 10-2
-Selettore di interfaccia 191-2
-Interfaccia sonda PI 200
- LC60DX
Sistema di controllo laser.
Renishaw PH10M - Testa di misura indicizzata motorizzata
Assi di rotazione:
Asse A: ±180°
Asse B: 0–115°
Passo di indicizzazione: 7,5°
→ che dà un totale di 720 posizioni ripetibili
Interfaccia:
Collegamento Autojoint/M8 (compatibile con sistemi di sonde modulari come Renishaw TP200, SP25M o scanner laser Nikon/Metris)
Peso massimo dello stilo: circa 300 g
Lunghezza massima dello stilo: fino a 300 mm
Ripetibilità della posizione: ±0,4 µm (0,0004 mm)
Applicazioni:
Misurazione di parti con forme complesse (pale di turbine, stampi, alloggiamenti, ecc.)
Utilizzato in combinazione con sonde come Renishaw SP25M, TP200 o Nikon/Metris LC15Dx
Compatibile con la maggior parte delle marche di CMM (DEA, Hexagon, Mitutoyo, Wenzel, LK, ecc.)
- Tipo/Modello: MMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm
- Numero di magazzino: W.05 16002
- Categoria: [W] Apparecchiature di misurazione e collaudo, equilibratrici
- Sottocategoria: [W.05] Piani campione (basamenti) e piani di misura
- Il marchio: Nikon - Metris
Numero di magazzino: W.05 16002